某型机箱的电磁屏蔽仿真分析
CSTR:
作者:
作者单位:

(西南自动化研究所智能制造技术研发中心,四川 绵阳 621000)

作者简介:

刘晨敏(1989—),女,河南人,硕士,助理工程师,从事电子设备结构设计及非标设备设计研究。

通讯作者:

中图分类号:

TP391.9

基金项目:


Simulation Analysis for Electromagnetic Shielding of Certain Type Chassis
Author:
Affiliation:

(Research & Development Center of Intelligent Manufacturing Technology, Southwest Automation Research Institute, Mianyang 621000, China)

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    摘要:

    为实现良好的电磁屏蔽,利用CST 工作室套装TM 软件的TLM 时域求解器对某型机箱的屏蔽效能进行仿真分析。对比分析2 种激励入射方式,对涉及电磁泄漏的常见结构如散热孔阵、接缝等进行探讨,并通过仿真分析了螺钉间距对机箱屏蔽效能的影响。仿真结果表明:入射方式对孔缝处的屏效有显著影响;随螺钉间距减小,其对机箱屏效影响的增速下降。该研究可为机箱的电磁屏蔽设计和机箱结构优化提供参考。

    Abstract:

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引用本文

刘晨敏.某型机箱的电磁屏蔽仿真分析[J].,2016,35(04):81-84.

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  • 在线发布日期: 2018-12-05
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